LM-2D MARK 系统主要包含Wafer Mapping及Strip Mapping两个系统模块,
通过对晶圆、基板进行实物条码与MAP统一管理,自动管控不良产品,降低成本并
提高效率。系统支持图谱数据格式转换、图谱合并及核对、图谱上传/下载、
Control Map管控、图谱迭图分析、图谱人工编辑、Strip与Wafer之间单颗产品
可追溯等功能。
◆ 全流程图谱管理
◆ Strip Mapping管理
◆ Unit维度追溯管理
◆ 图谱文件解析
◆ 图谱自动合并校验
◆ 图谱大数据分析
Copyright © 2017-2024龙米软件All Rights Reserved. 地址:江苏省常州市新北区华山中路23号2号楼 苏ICP备2021033225号-1 XML地图 网站模板