LM-2D MARK图谱管理系统

LM-2D MARK 系统主要包含Wafer Mapping及Strip Mapping两个系统模块， 通过对晶圆、基板进行实物条码与MAP统一管理,自动管控不良产品，降低成本并 提高效率。系统支持图谱数据格式转换、图谱合并及核对、图谱上传/下载、 Control Map管控、图谱迭图分析、图谱人工编辑、Strip与Wafer之间单颗产品 可追溯等功能。

◆ 全流程图谱管理 

◆ Strip Mapping管理 

◆ Unit维度追溯管理 

◆ 图谱文件解析 

◆ 图谱自动合并校验 

◆ 图谱大数据分析